LAB 03. Caracterizări morfologice și structurale

Microsop cu baleiaj electronic (SEM)

TESCAN Vega XM, Cehia

Specificații:

• Filament cu emisie termionică
• Suport cu deplasare pe cinci axe, complet motorizat
• Detector de electroni secundary (SED)
• Detector de electroni retroîmprăștiați (BSED)
• Operare în vid mediu și înalt
• Litografie cu fascicol de electroni (EBL), modul RAITH

Utilizare:

• Studii de morfologie a suprafețelor și interfețelor
• Analiza în secțiune a eșantioanelor
• Nanolitografie electronică (EBL)

Microsop de forță atomică (AFM)

A.P.E.Research A100-SGS, Italia

Specificații:

• AFM, în mod "contact" și "atingere"
• AFM-conductiv (C-AFM)
• Microscopie de răspuns electrostatic (EFM)
• Microscopie de răspuns magnetic (MFM)
• Microscopie de răspuns piezoelectric (PFM)
• Microscopie cu baleiaj prin "Efect Tunel" (STM),
  mediu ambiant
• Modul pentru nanolitografie:
  • Nano-indentare ("Zgâriere")
  • Oxidare anodică locală (LAO), echipat cu sistem de reglare, control şi menţinere a umidităţii relative (RH)

Utilizare:

• Studii ale morfologiei și topografiei suprafețelor, incluzând determinarea parametrilor cantitativi (rugozitate RMS, asimetrie, aplatizare, etc.)
• Analiza locală a proprietăților electrice, magnetice și piezoelectrice ale nanomaterialelor
• Realizarea de nanostructuri și modele funcționale prin nanolitografie de înaltă rezoluție

Difractometru de raze X (XRD)

Bruker D8 Discover, Germania

Specificații:

• Radiație X: Cupru (Cu) K_α1 și K_α2
• Optimizat pentru analiza pulberilor cristaline (PXRD)
• Capabilități incidență razantă (GI-XRD)
• Modul pentru reflectometrie de raze X (XRR)

Utilizare:

• Identificarea sistemului cristalografic și a fazelor cristaline
• Analiză structurală avansată cu identificarea parametrilor cristalografici și microstructurali, precum lungimea de coerență cristalină, micro-stresul, constantele de rețea și gradul de cristalinitate
• Evaluarea prin reflectometrie de raze X (XRR) a unor parametrii morfologici ai filmelor subțiri și multi-strat

Accesorii, consumabile și elemente auxiliare disponibile în laborator:

• Pensete disponibile într-o varietate de forme, dimensiuni și configurații funcționale, confecționate din materiale precum oțel inoxidabil, Teflon și alte materiale compatibile cu aplicațiile de laborator, utilizate pentru manipularea și transferul eșantioanelor și probelor sensibile.
• Set complet de accesorii pentru microscopie de înaltă rezoluție, incluzând suporturi și port-probe dedicate diferitelor tipuri de eșantioane, sisteme de montare și fixare, benzi adezive conductoare pe bază de carbon utilizate pentru prepararea și montarea probelor în aplicații de microscopie electronică, precum și alte consumabile și componente auxiliare necesare caracterizării morfologice și structurale a materialelor avansate.
• Acces la baze de date cristalografice (PDF, COD, ICSD, etc.), utilizate la identificarea și validarea fazelor cristaline prin corelarea diagramelor de difracție experimentale cu fișe de referință și structuri raportate în literatura de specialitate.
• Mănuși, halate, ochelari de protecție și alte echipamente individuale de protecție.